A. V-모델.

B. 폭포.

C. 스크럼.

D. 프로그레시브.

A. 테스트 계획은 수명 주기 시작 시 한 번만 수행되며 마스터 테스트 계획을 생성합니다.

B. 테스트 계획은 수명주기가 시작될 때와 테스트 실행이 시작될 때 다시 수행됩니다.

C. 테스트 계획은 수명 주기의 시작 부분과 모든 테스트 수준에서 다시 수행됩니다.

D. 테스트 계획은 모든 수명 주기 프로세스 및 활동에서 지속적으로 수행됩니다.

A. 테스트를 실행할 수 있는 직원 수

B. 테스트 계획의 세부 수준

C. 제품의 신뢰성 및 보안에 대한 요구사항

D. 사용된 검정 추정 방법

A. 유지 관리 테스트는 초기 제공 전에 개발 중인 소프트웨어의 변경 사항에 의해 트리거되며 테스트 계획을 사용하여 수행할 회귀 테스트의 양을 결정합니다.

B. 유지 관리 테스트는 제공된 소프트웨어의 변경으로 인해 시작되며 영향 분석을 사용하여 필요한 회귀 테스트 양을 최소화합니다.

C. 유지 관리 테스트는 소프트웨어 환경 변경으로 인해 시작되며 구조 테스트를 사용하여 변경 사항이 올바르게 작동하는지 확인합니다.

D. 유지 관리 테스트는 테스트 환경 변경으로 인해 트리거되며 테스트 도구를 사용하여 회귀 테스트를 수행합니다.

A. 자기, 방사선, 심지어 오염과 같은 요인이 전자 장치와 성능에 영향을 미칠 수 있습니다.
임베디드 실시간 소프트웨어

B. 소프트웨어 애플리케이션이 주변 온도 및 습도에서 실행되는 하드웨어인 경우,
어떤 실패도 환경 조건과 연관될 수 없습니다

C. 환경 조건은 하드웨어에만 영향을 미치고 소프트웨어에는 영향을 미치지 않습니다.

D. 저장 매체에 가해지는 극심한 열과 진동으로 인해 알고리즘 및 프로그램 흐름에 오류가 발생할 수 있습니다.